多功能掃描探針顯微鏡AFM100 Plus AFM100

產品簡介：

多功能掃描探針顯微鏡AFM100 Plus AFM100系統是以在研發、生產、教育等各種場合普及AFM應用為目的，并追求操作性、可靠性及高效率觀察的通用型高分辨掃描探針顯微鏡系統。

Name: 多功能掃描探針顯微鏡AFM100 Plus AFM100
Brand: Hitachi/日立
Availability: InStock

產品型號：

更新時間：2025-10-27

廠商性質：生產廠家

訪問量：644

服務熱線

400-617-1658

立即咨詢

產品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

通用類儀器

查看全部產品

紫外可見分光光度計的主要組成部分及其作用

高效液相色譜儀從分離度優化到分析時間縮短的五大技巧

橡膠加工分析儀RPA在橡膠生產過程中的作用

耐臭氧試驗機的安全操作注意事項

耐臭氧試驗機操作指南

產品介紹

　　多功能掃描探針顯微鏡AFM100 Plus AFM100系統是以在研發、生產、教育等各種場合普及AFM應用為目的，并追求操作性、可靠性及高效率觀察的通用型高分辨掃描探針顯微鏡系統。

　　多功能掃描探針顯微鏡AFM100 Plus AFM100：

　　一鍵自動測量/處理/分析

　　預裝探針系統實現可靠的探針更換

　　利用AFM標記功能實現同視野的AFM-SEM-EDS觀察分析

　　上海百疊科技有限公司(ShangHai B-Dear Technology Co.,Ltd)是一家專注于檢測儀器領域的高科技企業。儀器行業范圍內集產品研發、進出口銷售、安裝和售后服務為一體的企業。公司擁有行業內經驗豐富的*技術人員與專業化銷售團隊。客戶遍布高校、光伏、新能源、新材料、橡膠、塑料、輪胎、汽車和火車及其零部件等各個領域。

　　成立至今，在儀器領域發展迅速，通過為客戶的儀器咨詢、試驗室整體解決方案和成套實驗室解決方案供應商。

　　我們已經與歐洲、美洲、亞洲等多國有了密切的合作，建立了良好的產品供應鏈和完整的客戶網絡。公司已經與國外多家儀器廠商達成戰略合作協議，以更好的服務中國市場。

上一個：納米尺度3D光學干涉測量系統VS1800

返回列表

下一個：高精度數顯千分尺293系列MDH-25MC

在線留言

ONLINE MESSAGE

多功能掃描探針顯微鏡AFM100 Plus AFM100系統是以在研發、生產、教育等各種場合普及AFM應用為目的，并追求操作性、可靠性及高效率觀察的通用型高分辨掃描探針顯微鏡系統。

留言框

產品：

您的單位：

您的姓名：

聯系電話：

常用郵箱：

省份：

詳細地址：

補充說明：

驗證碼：

多功能掃描探針顯微鏡AFM100 Plus AFM100系統是以在研發、生產、教育等各種場合普及AFM應用為目的， 并追求操作性、可靠性及高效率觀察的通用型高分辨掃描探針顯微鏡系統。

留言框

產品：

您的單位：

您的姓名：

聯系電話：

常用郵箱：

省份：

詳細地址：

補充說明：

驗證碼：

多功能掃描探針顯微鏡AFM100 Plus AFM100系統是以在研發、生產、教育等各種場合普及AFM應用為目的，并追求操作性、可靠性及高效率觀察的通用型高分辨掃描探針顯微鏡系統。